a) 基体金属磁性质

磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响(在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为

是轻微的)，为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同

性质的标准片对仪器进行校准;亦可用待涂覆试件进行校准。

b) 基体金属电性质

基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法

有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。

c) 基体金属厚度

每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测量就不受基体金属厚

度的影响。

d) 边缘效应

本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不

可靠的。

e) 曲率

试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，

在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。

f) 试件的变形

测量头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测出可靠的数据。

g) 表面粗糙度

基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大，影响增大。粗糙

表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，

以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体

金属试件上取几个位置校对仪器的零点;或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆

盖层后，再校对仪器的零点。

h) 磁场

周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性法测厚工作。

i) 附着物质

本仪器对那些妨碍测量头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感，因此，必须清除

附着物质，以保证仪器测量头和被测试件表面直接接触。

j) 测量头压力

测量头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数，因此，要保持压力恒定。

k) 测量头的取向

测量头的放置方式对测量有影响。在测量中，应当使测量头与试样表面保持垂直。

a) N 基体金属特性

对于磁性方法，标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度，应当与试件基体金属的磁

性和表面粗糙度相似。

对于涡流方法，标准片基体金属的电性质，应当与试件基体金属的电性质相似。

b) 基体金属厚度

检查基体金属厚度是否超过临界厚度，如果没有，可采用 3.3)中的某种方法进行校

准。

c) 边缘效应

不应在紧靠试件的突变处，如边缘、洞和内转角等处进行测量。

d) 曲率

不应在试件的弯曲表面上测量。

e) 读数次数

通常由于仪器的每次读数并不完全相同，因此必须在每一测量面积内取几个读数。

覆盖层厚度的局部差异，也要求在任一给定的面积内进行多次测量，表面粗造时更

应如此。

f) 表面清洁度

测量前，应清除表面上的任何附着物质，如尘土、油脂及腐蚀产物等，但不要除去

任何覆盖层物质。

1 环境要求

严格避免碰撞、重尘、潮湿、强磁场、油污等。

2 更换电池

本仪器在使用中，当电池电压过低时，即屏幕上的电池标志显示为空，应尽快给仪

器更换电池。更换电池时应特别注意电池安装的正负极性的方向。

3 故障排除

1)更换电池

仪器 5 天以上不使用时应取出电池。当仪器出现低电压提示时应更换电池，更换电

池时请注意极性。

2)恢复出厂设置

开机状态下，在 2 秒内依次按下按键 、▲、▲、▼、▼，屏幕显示英文对话询问

是否确认恢复出厂设置，要进行恢复出厂设置，选择””并按μm/mil确认。

3)测量头校准修正

出现较大误差(如：校准不当或有操作错误等)可作六点修正校准,校准仪器。