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集成测试系统

集成测试系统

晶圆测试系统

    晶圆测试系统

    • 探针台

    • 高低温卡盘

    • IV仪表

    • CV仪表

    • 测试软件

    探针台

    • 1.1. 8英寸-80℃ to +200℃高低温密闭腔体                                                               

    • 1.2.卡盘X/Y轴平面无间隙气浮快速移动,移动速率可调,单手控制,快速移动行程:8英寸X8英寸,任意位置自动锁止,
            同时X/Y轴平面无间隙微调移动行程:8英寸X8英寸,精度:1um

    • 1.3.卡盘Z轴无间隙升降移动,行程:0~10mm,微调精度:1um

    • 1.4.探针平台快速升降行程 0/0.3/3.0mm并带自动锁定功能

    • 1.5.显微镜底座在 X-Y轴平面内微调移动,行程:2英寸X2英寸,精度1微米

    • 1.6.显微镜Z轴气浮快速升降,行程0~50mm,升降速率可调

    • 1.7.高分辨显微观察系统,光学分辨率0.5um,配合2000万像素高清工业相机和液晶显示器,带拍照、录像和尺寸测量
            软件

    • 1.8.直流、脉冲、高压、大电流、高频探针均可配置。

    高低温卡盘

    • 2.1. 8英寸高低温卡盘,同轴结构,背栅电极测试,可兼容Banana、BNC、TRIAX、SMA、HV TRIAX等测试接口

    • 2.2. 温度范围:-80℃ to  +200℃

    • 2.3. 温度分辨率 : 0.1℃

    • 2.4. 温度稳定性: ±0.1℃

    • 2.5. 控温方式 : 全自动控温软件,一键控制温控器、传感器和液氮流量

    IV仪表

    • 3.1. 提供宽动态范围:200mV~200V, 1μA~1A, 20W

    • 3.2. 最小电流分辨率:0.1fA

    • 3.3. 最小电压分辨率:1uV

    • 3.4. 四象限工作

    • 3.5. 数字I/O提供快速分选与机械手连接GPIB,RS-232

    CV仪表

    • 4.1. 测量频率DC,4Hz~8MHz(10 mHz~100 Hz步进)

    • 4.2. 测量模式:单次/连续测量

    • 4.3. 基本精度Z: 0.05 % rdg. θ: 0.03°

    • 4.4 最小电容分辨率:0.1fF

    • 4.5. DC偏压-200V~+200V

    测试软件

    • 5.1. 人机交互界面多功能软件;

    • 5.2. 具备数据图形化分析功能,具备输出通道、测试通道、输出类型、扫描模式、电压/电流参数、扫描步长、输出延迟、
            循环次数、接线方式设置功能;

    • 5.3. 可实时测得IV曲线、VI曲线、IT曲线、VT曲线、RT曲线、PT曲线、RV曲线、FET特性曲线、BJT特性曲线、C-F、
            C-V、C-T实时曲线;

    • 5.4.滤波设置,对测量值取平均;

    • 5.5. 手动设置输出和测量的量程范围,也可设置自动量程;

    • 5.6. 设置测量积分时间,控制测量速率和精确度,积分时间可设置为0.001s~25s;

    • 5.7. 通讯接口支持GPIB、RS-232、USB、LAN;

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